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產品列表PRODUCTS LIST

芯片溫度測試變化試驗箱

型號：TEB-255PF

瀏覽量：2197

更新時間：2025-07-27

價格：45980

簡要描述：

芯片溫度測試變化試驗箱
可為用戶檢驗、檢測電子電工元器件、零配件
或相關行業的實驗部門提供一個模擬環境，為
測試數據的準確性和一致性（可重復）提供*條件。

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芯片溫度測試變化試驗箱
品牌HT/皓天價格區間2萬-5萬
產地類別國產應用領域電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,汽車及零部件,電氣

芯片溫度測試變化試驗箱

 

升溫時間(平均/min)

非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃）

降溫時間(平均/min)

非線性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃）

 

芯片溫度測試變化試驗箱

 

1 、 試驗箱結構設計新穎合理，配套產品和功能元器件具有較高水平，能夠適 應長期、穩定、安全、可靠的生產需求。能夠滿足用戶為從事上述用途的加工生產要 求，且使用、操作、維修方便，使用壽命長，造型美觀，有良好的用戶界面，使用戶的操作和監測都更加簡單和直觀。

2、 設備主要部件選用國際品牌廠家的產品，確保整機的質量和性能。

3 、 設備性能完善、人機對話功能簡便易操作。

4、擁有自主知識產權和外觀設計以及掌握環境試驗箱核心技術

5、控制儀表采用日本*"優易控"UMC1200，可實行遠程監控

6、制冷系統采用法國原裝泰康壓縮機組，并配有凝結水接水盤

7、核心電氣元器件均采用施耐德等

8、沿襲國外環境試驗設備*設計理念，水電分離

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